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DM2500

MMEDXRF輕中元素光譜儀

（通用型）

多單色激發(fā)實(shí)現(xiàn)高峰背比，使能測(cè)元素（B～Zn），

其準(zhǔn)確度媲美大型波長(zhǎng)色散光譜儀

通用型滿足各行各業(yè)任何種類

物料元素濃度的測(cè)量要求

采用

多單色激發(fā)能量色散X射線熒光(MMEDXRF)分析技術(shù)

對(duì)數(shù)螺線型雙曲面彎晶(LSDCC)實(shí)現(xiàn)衍射并作為二次靶

高計(jì)數(shù)率、高分辨率、高透過率(AP3.3窗)SDD探測(cè)器

電壓、電流、靶材完美組合的微焦斑薄鈹窗X射線管源

符合標(biāo)準(zhǔn)

GB/T3286.11

GB/T4333.5

YS/T63.16

GB/T24198

GB/T24231

GB/T34534

GB/T176

JB/T11145

JC/T1085

等

概述

DM2500MMEDXRF輕中元素光譜儀，詳稱DM2500多單色激發(fā)能量色散X射線熒光輕中元素（B～Zn）光譜儀，是本公司集數(shù)十年X熒光光譜儀的研究經(jīng)驗(yàn)，在公司原有的DM系列X熒光硫鈣鐵分析儀、X熒光多元素分析儀、X熒光光譜儀等的基礎(chǔ)上研制推出的一種具創(chuàng)新性的XRF光譜儀。它采用多單色激發(fā)能量色散X射線熒光(MMEDXRF) ( Multiple Monochromatic Excitation Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)分析技術(shù)。主要部件，如：?jiǎn)紊w采用本公司研制的具有本公司專利的對(duì)數(shù)螺線旋轉(zhuǎn)點(diǎn)對(duì)點(diǎn)聚焦鍺單色晶體，X射線管采用KeyWay公司生產(chǎn)的50W微焦點(diǎn)大輻射角薄鈹窗X射線管，并對(duì)其高壓、電流、靶材進(jìn)行最佳組合， X射線探測(cè)器采用德國(guó)Ketek公司生產(chǎn)的具有高計(jì)數(shù)率、高能量分辨率、高透過率的常溫用SDD半導(dǎo)體X射線探測(cè)器。并且采用具有本公司自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的輕元素專用的光學(xué)系統(tǒng)及多種方法組合使用的多個(gè)單色激發(fā)系統(tǒng)等獨(dú)有的技術(shù)，極大地提高了儀器的靈敏度和峰背比。它還采用X射線向下照射系統(tǒng)，樣品自旋裝置，特別適合粉末壓片樣品，且可根據(jù)應(yīng)用選擇真空系統(tǒng)或自充氣系統(tǒng)。由此使本光譜儀達(dá)到國(guó)際領(lǐng)先水平。在與大型波長(zhǎng)色散光譜儀的比較試驗(yàn)中，其大部分性能指標(biāo)接近或達(dá)到大型波長(zhǎng)色散光譜儀的性能指標(biāo)，某些甚至超過。其性能指標(biāo)相比進(jìn)口同類產(chǎn)品更好，而價(jià)格僅為進(jìn)口同類產(chǎn)品的一半，具有無(wú)可比擬的價(jià)格性能比。另外國(guó)內(nèi)企業(yè)售后服務(wù)的方便程度是國(guó)外企業(yè)所無(wú)法相比的。且本光譜儀良好的屏蔽防護(hù)設(shè)計(jì)保證無(wú)任何射線泄漏，滿足輻射豁免要求。

適用范圍

DM2500MEDXRF輕中元素光譜儀可用于各行各業(yè)所有物料的含量測(cè)量。無(wú)論環(huán)保、冶金、化工、地質(zhì)、礦山、電子電氣、食品等各行業(yè)，還是壓片、熔片、液體等各類型樣品，只要用戶所要求的測(cè)量元素在B(5)～Zn(30)的范圍內(nèi)，DM2500都能進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。其符合幾乎所有元素測(cè)定XRF光譜法標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)要求，如：國(guó)家或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)GB/T 176—2017《水泥化學(xué)分析方法》、GB/T3286.11-2022《石灰石及白云石化學(xué)分析方法　第11部分：氧化鈣、氧化鎂、二氧化硅、氧化鋁及氧化鐵含量的測(cè)定　波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法（熔鑄玻璃片法）》、GB/T4333.5-2016《 硅鐵 硅、錳、鋁、鈣、鉻和鐵含量的測(cè)定 波長(zhǎng)色散X-射線熒光光譜法（熔鑄玻璃片法）》、YS/T63.16—2019《鋁用碳素材料檢測(cè)方法 第16部分：元素含量的測(cè)定 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜分析方法》、GB/T24198-2009《鎳鐵.鎳、硅、磷、錳、鈷、鉻和銅含量的測(cè)定.波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法(常規(guī)法)》等。其還符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JC/T1085—2008《水泥用X射線熒光分析儀》、JB/T11145—2011《X射線熒光光譜儀》。

如貴用戶對(duì)某些元素的測(cè)量有特殊的要求，則本公司可根據(jù)用戶的要求更改單色激發(fā)系統(tǒng)和或軟件系統(tǒng)以滿足用戶對(duì)測(cè)量元素的要求。

特點(diǎn)

快速同時(shí)–所需測(cè)量元素同時(shí)快速分析，一般幾十秒給出含量結(jié)果。

高準(zhǔn)確度–采用先進(jìn)MMEDXRF技術(shù)，LSDCC核心技術(shù)，根據(jù)所要測(cè)量的元素來選擇單色光的能量及產(chǎn)生單色光的方法，極大地提高了儀器的靈敏度和峰背比，具出色的重復(fù)性和再現(xiàn)性，極高的準(zhǔn)確度。

向下照射–采用X射線向下照射系統(tǒng)，杜絕了樣品粉末污染損壞探測(cè)系統(tǒng)的可能，特別適合粉末壓片樣品。

樣品自旋–具有樣品自旋裝置，消除了壓片樣品中由于特硬物質(zhì)的存在而不易粉碎造成的樣品不均勻性。

長(zhǎng)期穩(wěn)定–采用可變?cè)鲆鏀?shù)字多道，有PHA自動(dòng)調(diào)整、漂移校正、偏差修正等功能，具極好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。

環(huán)保節(jié)能–射線防護(hù)達(dá)豁免要求。分析時(shí)不接觸不破壞樣品，無(wú)污染，無(wú)需化學(xué)試劑，也不需要燃燒。

使用方便–觸摸屏操作。樣品粉碎壓片放入儀器后只需按[啟動(dòng)]鍵即可，真正實(shí)現(xiàn)一鍵操作。

高可靠性–一體化設(shè)計(jì)，集成化程度高，環(huán)境適應(yīng)能力強(qiáng)，抗干擾能力強(qiáng)，可靠性高。

高性價(jià)比–無(wú)需鋼瓶氣體，運(yùn)行維護(hù)成本極低。價(jià)格為國(guó)外同類產(chǎn)品的一半。是真正的高性價(jià)比產(chǎn)品。

尖端技術(shù)

同標(biāo)準(zhǔn)型

校準(zhǔn)

X熒光分析方法是一種參考方法，校準(zhǔn)是為得到定量的結(jié)果所必須的。XRF光譜儀通過比較已知標(biāo)樣與未知樣的光譜強(qiáng)度來得到定量分析的結(jié)果。其某元素的含量計(jì)算式（即校準(zhǔn)曲線）為：

C＝D＋EI_C＋FI_C ²                                                     （1）

式中，I_C =f(I₀)，I₀為原始強(qiáng)度（即原始道計(jì)數(shù)率），I_C為處理后強(qiáng)度（或修正后強(qiáng)度），D、E、F是由校準(zhǔn)確定的系數(shù)。校準(zhǔn)的方法是：用光譜儀測(cè)量一系列校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)樣品或有證標(biāo)準(zhǔn)樣品的每種元素強(qiáng)度，利用回歸分析，例如最小二乘法，確定（1）的系數(shù)。

用已知含量的某單位鋁用碳素校準(zhǔn)樣品對(duì)光譜儀進(jìn)行校準(zhǔn)，得到的數(shù)據(jù)如表1。

表1.某單位鋁用碳素校準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)結(jié)果數(shù)據(jù)（ppm）

這些校準(zhǔn)曲線的相關(guān)系數(shù)γ 均大于0.95，表示DM2500光譜儀的線性誤差極小。

重復(fù)性

對(duì)某單位鋁用碳素樣品中的某一樣品，進(jìn)行11次測(cè)量，得到各元素的重復(fù)性數(shù)據(jù)如表2。

表2.某單位鋁用碳素樣品重復(fù)性測(cè)量數(shù)據(jù)分析（ppm）

注：粉末壓片樣品。在X射線源為半功率（25W），測(cè)量時(shí)間為300s的條件下，連續(xù)進(jìn)行11次測(cè)量所得的結(jié)果。

從上表可知：光譜儀的重復(fù)性限均小于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)YS/T63.16—2019《鋁用碳素材料檢測(cè)方法 第16部分：元素含量的測(cè)定 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜分析方法》所要求的重復(fù)性限。所以，DM2500光譜儀可實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性，完全滿足YS/T63.16—2019有關(guān)重復(fù)性的要求。

主要技術(shù)指標(biāo)

注：檢出限與樣品基體有關(guān)。