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    DM8000


    多元素分析儀(波散)


    多道同時(shí)測(cè)量,快速、可靠、準(zhǔn)確度高

    尤其適合工礦企業(yè)對(duì)多元素測(cè)量的要求


    采用

    波長(zhǎng)色散X射線熒光(WDXRF)分析技術(shù)

    美國(guó)進(jìn)口Varian公司薄鈹端窗X射線管

    Moxtek公司0.6μm超薄聚酯探測(cè)器窗


    符合標(biāo)準(zhǔn)

    GB/T176

    JB/T11145

    JC/T1085


    概述

    DM8000多元素分析儀(波散)是由本公司集數(shù)十年X熒光分析儀的研究經(jīng)驗(yàn),在公司原有的DM系列X熒光鈣鐵分析儀、測(cè)硫儀、鋁硅分析儀、多元素分析儀等的基礎(chǔ)上研制推出的一種達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平的分析儀器。它采用同時(shí)式(或稱多道式)波長(zhǎng)色散X射線熒光(WDXRF)分析技術(shù),所有道同時(shí)測(cè)量NaU的任意十種元素。對(duì)大多數(shù)元素,其測(cè)量范圍可低至ppm高至100%。具有分析速度快、精度高、人為誤差小、操作人員勞動(dòng)強(qiáng)度低、只需一次性投資、無污染等特點(diǎn),故廣泛應(yīng)用于建材、冶金、石油、化工、地質(zhì)、礦山等各行各業(yè)。

    DM8000多元素分析儀(波散)關(guān)鍵部件采用進(jìn)口產(chǎn)品,如X射線管采用Varian公司生產(chǎn)的400W薄鈹端窗X射線管,Na、Mg輕元素道探測(cè)器窗采用Moxtek公司生產(chǎn)的0.6μm超薄聚酯窗,恒溫室溫度控制精度小于0.1,流氣系統(tǒng)采用高精度流氣密度穩(wěn)定裝置,壓力穩(wěn)定度小于3Pa,還具有樣品自旋裝置以消除樣品不均勻所產(chǎn)生的測(cè)量誤差。由此使本分析儀具有極高的精度和準(zhǔn)確度,達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平本分析儀屏蔽防護(hù)的良好設(shè)計(jì)保證無任何射線泄漏,滿足輻射豁免要求。

    DM8000多元素分析儀(波散)應(yīng)用于我國(guó)水泥行業(yè)尤其顯示出其優(yōu)越性。這是由于該款儀器最初是為水泥行業(yè)專門開發(fā)的,其符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 176—2017《水泥化學(xué)分析方法》的相關(guān)要求,符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JC/T1085—2008《水泥用X射線熒光分析儀》,符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JB/T11145—2011X射線熒光光譜儀》。其性能對(duì)水泥行業(yè)來說比進(jìn)口同類產(chǎn)品更好,而價(jià)格僅為進(jìn)口同類產(chǎn)品的一半,具有無可比擬的價(jià)格性能比。另外國(guó)內(nèi)企業(yè)售后服務(wù)的方便程度是國(guó)外企業(yè)所無法相比的。


    適用范圍

    主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中Na2O,MgO,Al2O3SiO2,SO3TiO2,K2OCaO,Fe2O3等的濃度測(cè)量??蓡螜C(jī)使用,也可聯(lián)機(jī)使用為生料配料自動(dòng)控制系統(tǒng)提供檢測(cè)訊號(hào),形成分析儀---微機(jī)---皮帶秤自動(dòng)控制系統(tǒng)。

    除水泥工業(yè)外,也可用于發(fā)電廠、磚瓦廠、冶金、石油、地質(zhì)礦山等工礦部門的固體、液體和粉末樣品中Na2OMgO,Al2O3SiO2,SO3,TiO2,K2O,CaO,Fe2O3等的濃度分析。


    特點(diǎn)

    快速同時(shí)––同時(shí)式(或稱多道式),所需測(cè)量元素同時(shí)快速分析,一般幾分鐘給出濃度結(jié)果。

    高準(zhǔn)確度––波長(zhǎng)色散XRF分析技術(shù),具有能量色散無法企及的極高分辨率,從而準(zhǔn)確測(cè)量相鄰輕元素。

    使用方便––樣品粉碎壓片或熔融,放入儀器后只需按[啟動(dòng)]鍵即可,真正實(shí)現(xiàn)一鍵操作。

    長(zhǎng)期穩(wěn)定––有恒溫室、流氣密度穩(wěn)定、樣品自旋等裝置,還有可變?cè)鲆鏀?shù)字多道,具極好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。

    高可靠性––固定道使儀器基本沒有移動(dòng)部件,且集成化程度高,環(huán)境適應(yīng)能力強(qiáng),從而可靠性高。

    軟件強(qiáng)大––有比率或基體效應(yīng)校正、偏差修正、合格率等統(tǒng)計(jì)、率值計(jì)算、出錯(cuò)提示等多種功能,還可免費(fèi)

    更新最新版本,根據(jù)用戶要求增加軟件功能。

    環(huán)保節(jié)能––射線防護(hù)達(dá)豁免要求。分析時(shí)不接觸不破壞樣品,無污染,無需化學(xué)試劑,也不需要燃燒。

    高性價(jià)比––無需水冷,運(yùn)行維護(hù)成本極低。價(jià)格為國(guó)外同類產(chǎn)品的一半,適應(yīng)我國(guó)國(guó)情。


    原理

    其原理如圖2所示。X射線管垂直放置,直接向上照射樣品,這樣可使它們之間的距離盡可能的近,從而達(dá)到最大激發(fā)效率。樣品接受X射線管所發(fā)出X射線的照射將產(chǎn)生X射線熒光,其將進(jìn)入分光室進(jìn)行分光。一種元素對(duì)應(yīng)一個(gè)分光室。X射線熒光經(jīng)狹縫(如果分光晶體用的是彎晶)或索拉狹縫(如果分光晶體用的是平晶)射向分光晶體,經(jīng)晶體分光后滿足衍射條件布拉格方程的對(duì)應(yīng)該元素的特征X射線熒光再經(jīng)狹縫或索拉狹縫射向探測(cè)器。經(jīng)探測(cè)器探測(cè)并經(jīng)后面的電子線路計(jì)數(shù)后將得到該元素特征X射線熒光的強(qiáng)度,再經(jīng)校準(zhǔn)方程計(jì)算得到元素的濃度。

    2 多道 WDXRF分析技術(shù)原理圖

    由于其X射線熒光是經(jīng)晶體按波長(zhǎng)來區(qū)分的,所以稱之為波長(zhǎng)色散。其分辨率與探測(cè)器無關(guān)只與晶體有關(guān),所以有很高的分辨率,相比于能量色散的要高1個(gè)數(shù)量級(jí)。


    關(guān)鍵部件


    進(jìn)口美國(guó)Varian公司生產(chǎn)的薄鈹端窗X射線管

    采用美國(guó)Varian公司生產(chǎn)的EG-60薄鈹端窗X射線管。該X射線管是端窗的,X射線束垂直于靶,焦斑到樣品距離極短,從而提高激發(fā)效率。其窗用薄鈹,靶材用的是銠,所以能高效地探測(cè)輕元素。其陰極接地,消除了對(duì)高度絕緣的燈絲變壓器的需要,也消除了鈹窗口的電子轟擊和由此產(chǎn)生的加熱。其功率為400W,只需用風(fēng)冷而不需用水冷,由于是多道同時(shí)測(cè)量,其效果相當(dāng)于掃描式(或稱單道式)4000W大型X射線管。其外形圖見圖3。


    3 EG-60薄鈹端窗X射線管

    進(jìn)口美國(guó)Moxtek公司生產(chǎn)的0.6μm超薄聚酯窗

    對(duì)于輕元素的測(cè)量,比如Na、Mg,探測(cè)器的窗是很重要的,其必須足夠薄并且足夠牢。本儀器采用美國(guó)Moxtek公司生產(chǎn)的0.6μm厚的ProLINE系列20窗,其由超薄層聚合物和涂有200埃的鋁的電荷耗散層連接到堅(jiān)固的金屬六邊形支撐框架上,從而達(dá)到低能量x射線的高透射。B)的分析都是可能的。圖4為其外形圖。圖5是其能量與透射率關(guān)系圖。


    4 Moxtek的超薄聚酯窗

    5 ProLINE系列能量與透射率

    恒溫室溫度控制精度小于0.1℃

    波長(zhǎng)色散分析儀是個(gè)精細(xì)的儀器,特別是晶體對(duì)機(jī)械尺寸的要求極高,當(dāng)溫度有一定的變化而造成尺寸那怕是微小的變化時(shí)會(huì)造成強(qiáng)度的變化,所以分光室必須恒溫。本儀器的恒溫室溫度控制精度小于0.1,并且除分光室外,其他如探測(cè)部分及其電子線路等均在恒溫室內(nèi),從而使儀器不受外界溫度的影響。

    流氣系統(tǒng)采用高精度流氣密度穩(wěn)定裝置,壓力穩(wěn)定度小于3Pa

    本儀器所用探測(cè)器為本公司自己開發(fā)生產(chǎn)的流氣正比計(jì)數(shù)管,其所流過的氣體的密度必須恒定才能保證探測(cè)器的穩(wěn)定,本儀器流氣系統(tǒng)采用高精度流氣密度穩(wěn)定裝置,壓力穩(wěn)定度小于3Pa

    具有樣品自旋裝置以消除樣品不均勻所產(chǎn)生的測(cè)量誤差。

    樣品若用粉末壓片的方法制備的話,如含SiO2,由于其硬度很高,磨得的顆粒大小不一,從而使樣片的表面不均勻。所以本儀器設(shè)計(jì)安裝了樣品自旋裝置以最大程度的消除樣品不均勻所產(chǎn)生的測(cè)量誤差。


    校準(zhǔn)

    X熒光分析方法是一種參考方法,校準(zhǔn)是為得到定量的結(jié)果所必須的。XRF光譜儀通過比較已知標(biāo)樣與未知樣的光譜強(qiáng)度來得到定量分析的結(jié)果。其某元素的濃度計(jì)算式(即校準(zhǔn)曲線)為:

    CDEICFIC 2                                                   1

    式中,IC =f(I0),I0為原始強(qiáng)度,IC 為處理后強(qiáng)度,DE、F是由校準(zhǔn)確定的系數(shù)。校準(zhǔn)的方法是:用光譜儀測(cè)量一系列校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)樣品或有證標(biāo)準(zhǔn)樣品的每種元素強(qiáng)度,利用回歸分析,例如最小二乘法,確定(1)式的系數(shù)。

    用已知濃度的11個(gè)國(guó)家水泥生料標(biāo)準(zhǔn)樣品對(duì)光譜儀進(jìn)行校準(zhǔn),得到的數(shù)據(jù)如表1

    1. 水泥生料標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)結(jié)果數(shù)據(jù)

    成分

    系數(shù)D

    系數(shù)E

    系數(shù)F

    相關(guān)系數(shù)γ

    Na2O

    -0.1281

    6.7578×10-6

    0

    0.8296

    MgO

    -0.2292

    6.0429×10-5

    0

    0.9968

    Al2O3

    -0.1096

    1.2584×10-4

    0

    0.9945

    SiO2

    -5.1116

    2.1326×10-5

    0

    0.9727

    SO3

    -0.2207

    1.1990×10-5

    0

    0.9687

    K2O

    0.0267

    7.0202×10-6

    0

    0.9952

    CaO

    11.4880

    1.1060×10-5

    0

    0.9980

    Fe2O3

    -1.7180

    9.9915×10-6

    0

    0.9967

    這些校準(zhǔn)曲線的相關(guān)系數(shù)γ大部分都大于0.99,表示DM8000多元素分析儀(波散)的線性誤差極小。


    重復(fù)性

    對(duì)同一水泥生料樣品,進(jìn)行11次測(cè)量,得到各元素的重復(fù)性數(shù)據(jù)如表2。


    2. 生料標(biāo)準(zhǔn)樣品重復(fù)性測(cè)量數(shù)據(jù)分析(%

    XS1標(biāo)樣

    Na2O

    MgO

    Al2O3

    SiO2

    SO3

    K2O

    CaO

    Fe2O3

    標(biāo)準(zhǔn)值

    0.09

    2.59

    4.27

    14.43

    0.24

    0.30

    39.84

    1.96

    平均示值

    0.07

    2.51

    4.31

    14.34

    0.26

    0.29

    39.95

    1.95

    最大示值

    0.07

    2.54

    4.36

    14.39

    0.27

    0.29

    39.98

    1.96

    最小示值

    0.07

    2.50

    4.29

    14.29

    0.26

    0.29

    39.92

    1.94

    極差

    0

    0.04

    0.07

    0.1

    0.01

    0

    0.06

    0.02

    示值標(biāo)準(zhǔn)偏差

    0.001

    0.01

    0.02

    0.02

    0.002

    0.0014

    0.02

    0.005

    3倍示值標(biāo)準(zhǔn)偏差

    0.003

    0.03

    0.06

    0.06

    0.006

    0.0042

    0.06

    0.015

    GB/T176的重復(fù)性限

    0.05

    0.15

    0.20

    0.20

    0.15

    0.10

    0.25

    0.15

    DM8000與國(guó)標(biāo)的符合性

    遠(yuǎn)優(yōu)

    遠(yuǎn)優(yōu)

    優(yōu)

    優(yōu)

    遠(yuǎn)優(yōu)

    遠(yuǎn)優(yōu)

    優(yōu)

    遠(yuǎn)優(yōu)

    GB/T 176—2017《水泥化學(xué)分析方法》的重復(fù)性要求,光譜儀的重復(fù)性必須滿足:其示值標(biāo)準(zhǔn)偏差的3倍不大于GB/T176的重復(fù)性限。從表2可以看出DM8000多元素分析儀(波散)可以實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性。



    主要技術(shù)指標(biāo)

    X射線管

    電壓:≤50keV,電流:≤8.0mA,功率:≤400W

    探測(cè)器

    超薄窗流氣正比計(jì)數(shù)管

    可測(cè)元素或其氧化物種類

    NaU的任意十種元素或其氧化物,以水泥為例(下同)具體是:

    Na2O,MgO,Al2O3,SiO2,SO3,TiO2,K2O,CaO,Fe2O3等。

    測(cè)量范圍

    Na2OMgO,Al2O3,SiO2,SO3,TiO2,K2O,CaO,Fe2O3等分析范圍均可調(diào)節(jié),

    通過校準(zhǔn)選定

    測(cè)量范圍寬度

    Na2O maxNa2O min≤5%MgO maxMgO min≤5%,Al2O3max—Al2O3min≤5%,

    SiO2 max—SiO2 min7≤%,SO3 max—SO3 min5%,TiO2 maxTiO2 min5%,

    K2O maxK2O min5%,CaOmax—CaOmin7%, Fe2O3 max—Fe2O3 min 5%。

    測(cè)量精度

    SNa2O≤0.01%,SMgO≤0.03%,SAl2O3≤0.04%SSiO2≤0.04%,SSO3≤0.01%,

    STiO2≤0.01%,SK2O≤0.01%,SCaO≤0.03%,SFe2O3≤0.02%。

    符合標(biāo)準(zhǔn)

    GB/T 176—2017,JC/T1085—2008,JB/T11145—2011

    系統(tǒng)測(cè)量時(shí)間

    1999s,推薦值:180s

    恒溫室溫度

    36±0.1

    使用條件

    環(huán)境溫度:1528,相對(duì)濕度:≤75%(25),供電電源:220V±20V,50Hz≤1.0kW

    尺寸及重量

    790mmW× 760mmD× 1200mmH),195kg

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